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顯卡檢測(cè)為標(biāo)準(zhǔn)

原創(chuàng)發(fā)布者:北檢院    發(fā)布時(shí)間:2024-12-10     點(diǎn)擊數(shù):

獲取試驗(yàn)方案?獲取試驗(yàn)報(bào)價(jià)?獲取試驗(yàn)周期?

注意:因業(yè)務(wù)調(diào)整,暫不接受個(gè)人委托測(cè)試望見(jiàn)諒。

GB/T 16857.3-2009

產(chǎn)品幾何技術(shù)規(guī)范(GPS) 坐標(biāo)測(cè)量機(jī)的驗(yàn)收檢測(cè)和復(fù)檢檢測(cè) 第3部分:配置轉(zhuǎn)臺(tái)的軸線為第四軸的坐標(biāo)測(cè)量機(jī)

  • 【發(fā)布單位或類別】 CN-GB國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)
  • 【發(fā)布日期】2009-11-15
  • 【CCS分類】J04基礎(chǔ)標(biāo)準(zhǔn)與通用方法
  • 【ICS分類】17.040.30測(cè)量?jī)x器儀表

GB/T 16857.3-2009

游標(biāo)、帶表和數(shù)顯卡尺

  • 【發(fā)布單位或類別】 CN-GB國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)
  • 【發(fā)布日期】2008-02-02
  • 【CCS分類】J42量具與量?jī)x
  • 【ICS分類】17.040.30測(cè)量?jī)x器儀表

GB/T 16857.3-2009

檢測(cè)設(shè)備 為電能表

  • 【發(fā)布單位或類別】 KR-KS韓國(guó)標(biāo)準(zhǔn)
  • 【發(fā)布日期】2003-12-05
  • 【CCS分類】量具與量?jī)x
  • 【ICS分類】計(jì)量學(xué)和測(cè)量綜合

GB/T 16857.3-2009

電子數(shù)顯卡尺

  • 【發(fā)布單位或類別】 CN-GB國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)
  • 【發(fā)布日期】1994-01-05
  • 【CCS分類】J42食品發(fā)酵、釀造
  • 【ICS分類】17.020術(shù)語(yǔ)學(xué)(原則和協(xié)調(diào)配合)

GB/T 16857.3-2009

以大豆為原料的醬油等發(fā)酵產(chǎn)品中轉(zhuǎn)基因成分的定性檢測(cè)方法

  • 【發(fā)布單位或類別】 CN-PLAN國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)計(jì)劃
  • 【發(fā)布日期】2008-01-14
  • 【CCS分類】X60/69量具與量?jī)x
  • 【ICS分類】01.020天然氣

GB/T 16857.3-2009

為罐頭行業(yè)提供可靠的在線視頻檢測(cè)

  • 【發(fā)布單位或類別】 JP-SM日本船用裝置工業(yè)會(huì)
  • 【發(fā)布日期】1990-06-01
  • 【CCS分類】交直流電工儀器記錄儀器
  • 【ICS分類】測(cè)量?jī)x器儀表

GB/T 16857.3-2009

使用長(zhǎng)度為污染檢測(cè)器的天然氣硫醇的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法

  • 【發(fā)布單位或類別】 US-ASTM美國(guó)材料與試驗(yàn)協(xié)會(huì)
  • 【發(fā)布日期】2020-12-15
  • 【CCS分類】基礎(chǔ)標(biāo)準(zhǔn)與通用方法
  • 【ICS分類】75.060紡織產(chǎn)品綜合

GB/T 16857.3-2009

數(shù)顯卡尺

  • 【發(fā)布單位或類別】 CN-TUANTI團(tuán)體標(biāo)準(zhǔn)
  • 【發(fā)布日期】2022-12-08
  • 【CCS分類】J42焊接與切割
  • 【ICS分類】17.040.30焊接接頭

GB/T 16857.3-2009

為圖片著色異常的檢測(cè)和評(píng)價(jià)試驗(yàn)方法

  • 【發(fā)布單位或類別】 KR-KS韓國(guó)標(biāo)準(zhǔn)
  • 【發(fā)布日期】2006-11-10
  • 【CCS分類】機(jī)械綜合
  • 【ICS分類】59.080.01天然氣

GB/T 16857.3-2009

為鐵素體鋼焊縫的超聲波自動(dòng)檢測(cè)方法

  • 【發(fā)布單位或類別】 KR-KS韓國(guó)標(biāo)準(zhǔn)
  • 【發(fā)布日期】2003-11-25
  • 【CCS分類】
  • 【ICS分類】25.160.40天然氣

GB/T 16857.3-2009

文件草案.帶電作業(yè).電壓檢測(cè)器.用于交流電壓超過(guò)1kV 頻率為16.7Hz的電容型

  • 【發(fā)布單位或類別】 DE-DIN德國(guó)標(biāo)準(zhǔn)化學(xué)會(huì)
  • 【發(fā)布日期】2008-08-01
  • 【CCS分類】
  • 【ICS分類】計(jì)量學(xué)和測(cè)量綜合

GB/T 16857.3-2009

使用長(zhǎng)度為污染檢測(cè)器的天然氣硫醇的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法

  • 【發(fā)布單位或類別】 US-ASTM美國(guó)材料與試驗(yàn)協(xié)會(huì)
  • 【發(fā)布日期】2015-11-01
  • 【CCS分類】
  • 【ICS分類】75.060天然氣

GB/T 16857.3-2009

使用長(zhǎng)度為污染檢測(cè)器的天然氣硫醇的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法

  • 【發(fā)布單位或類別】 US-ASTM美國(guó)材料與試驗(yàn)協(xié)會(huì)
  • 【發(fā)布日期】2011-11-01
  • 【CCS分類】
  • 【ICS分類】75.060天然氣

GB/T 16857.3-2009

確保測(cè)量一致性的狀態(tài)系統(tǒng) 波長(zhǎng)范圍為0,120-0,400 nm的檢測(cè)器的絕對(duì)光譜響應(yīng) 測(cè)量程序

  • 【發(fā)布單位或類別】 RU-GOST俄羅斯國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)
  • 【發(fā)布日期】
  • 【CCS分類】N25
  • 【ICS分類】17.020無(wú)損檢測(cè)

GB/T 16857.3-2009

使用長(zhǎng)度為污染檢測(cè)器的天然氣硫醇的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法

  • 【發(fā)布單位或類別】 US-ASTM美國(guó)材料與試驗(yàn)協(xié)會(huì)
  • 【發(fā)布日期】2006-06-01
  • 【CCS分類】
  • 【ICS分類】75.060焊接接頭

GB/T 16857.3-2009

使用長(zhǎng)度為污染檢測(cè)器的天然氣硫醇的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法

  • 【發(fā)布單位或類別】 US-ASTM美國(guó)材料與試驗(yàn)協(xié)會(huì)
  • 【發(fā)布日期】2000-01-01
  • 【CCS分類】
  • 【ICS分類】75.060無(wú)損檢測(cè)

GB/T 16857.3-2009

短程設(shè)備(SRD).頻率范圍為1 kHz至148.5 kHz的金屬和物體檢測(cè)傳感器.包括指令2014/53/EU第3.2條基本要求的協(xié)調(diào)標(biāo)準(zhǔn)(認(rèn)可英文版EN 303 454 V1.1.1(2018-01)為德國(guó)標(biāo)準(zhǔn))

  • 【發(fā)布單位或類別】 DE-DIN德國(guó)標(biāo)準(zhǔn)化學(xué)會(huì)
  • 【發(fā)布日期】2018-04-01
  • 【CCS分類】
  • 【ICS分類】

GB/T 16857.3-2009

無(wú)損檢測(cè) 超聲檢測(cè) 相控陣超聲檢測(cè)方法

  • 【發(fā)布單位或類別】 CN-GB國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)
  • 【發(fā)布日期】2016-02-24
  • 【CCS分類】J04
  • 【ICS分類】19.100

GB/T 16857.3-2009

焊縫無(wú)損檢測(cè) 超聲檢測(cè) 技術(shù)、檢測(cè)等級(jí)和評(píng)定

  • 【發(fā)布單位或類別】 CN-GB國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)
  • 【發(fā)布日期】2023-11-27
  • 【CCS分類】J33
  • 【ICS分類】25.160.40

GB/T 16857.3-2009

非破壞性測(cè)試 流量檢測(cè)設(shè)備基本為粒子加速器 主要參數(shù)及一般技術(shù)要求

  • 【發(fā)布單位或類別】 RU-GOST俄羅斯國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)
  • 【發(fā)布日期】
  • 【CCS分類】J00/09
  • 【ICS分類】19.100

實(shí)驗(yàn)儀器

實(shí)驗(yàn)室儀器 實(shí)驗(yàn)室儀器 實(shí)驗(yàn)室儀器 實(shí)驗(yàn)室儀器

測(cè)試流程

顯卡檢測(cè)為標(biāo)準(zhǔn)流程

注意事項(xiàng)

1.具體的試驗(yàn)周期以工程師告知的為準(zhǔn)。

2.文章中的圖片或者標(biāo)準(zhǔn)以及具體的試驗(yàn)方案僅供參考,因?yàn)槊總€(gè)樣品和項(xiàng)目都有所不同,所以最終以工程師告知的為準(zhǔn)。

3.關(guān)于(樣品量)的需求,最好是先咨詢我們的工程師確定,避免不必要的樣品損失。

4.加急試驗(yàn)周期一般是五個(gè)工作日左右,部分樣品有所差異

5.如果對(duì)于(顯卡檢測(cè)為標(biāo)準(zhǔn))還有什么疑問(wèn),可以咨詢我們的工程師為您一一解答。

  • 服務(wù)保障 一對(duì)一品質(zhì)服務(wù)
  • 定制方案 提供非標(biāo)定制試驗(yàn)方案
  • 保密協(xié)議 簽訂保密協(xié)議,嚴(yán)格保護(hù)客戶隱私
  • 全國(guó)取樣/寄樣 全國(guó)上門取樣/寄樣/現(xiàn)場(chǎng)試驗(yàn)