獲取試驗方案?獲取試驗報價?獲取試驗周期?
注意:因業(yè)務(wù)調(diào)整,暫不接受個人委托測試望見諒。
無損檢測 鋁合金超聲標準試塊制作和校驗方法
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【發(fā)布單位或類別】 CN-GB國家標準
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【發(fā)布日期】2017-09-29
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【CCS分類】J04基礎(chǔ)標準與通用方法
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【ICS分類】19.100無損檢測
無損檢測 射線透視檢測 第2部分:成像裝置長期穩(wěn)定性的校驗
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【發(fā)布單位或類別】 CN-GB國家標準
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【發(fā)布日期】2009-05-26
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【CCS分類】J04基礎(chǔ)標準與通用方法
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【ICS分類】19.100無損檢測
水環(huán)境檢測儀器及設(shè)備校驗方法 電熱鼓風(fēng)干燥箱校驗方法
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【發(fā)布單位或類別】 CN-SL行業(yè)標準-水利
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【發(fā)布日期】2008-06-17
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【CCS分類】N93水文與水利儀器
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【ICS分類】07.060地質(zhì)學(xué)、氣象學(xué)、水文學(xué)
無損檢測儀器 X射線管電壓的測量和評定 第2部分: 用厚濾光板法作持久校驗
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【發(fā)布單位或類別】 CN-JB行業(yè)標準-機械
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【發(fā)布日期】2013-12-31
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【CCS分類】N78X射線、磁粉、熒光及其他探傷儀器
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【ICS分類】17.180光學(xué)和光學(xué)測量
六氟化硫氣體分解產(chǎn)物檢測儀校驗方法
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【發(fā)布單位或類別】 CN-TUANTI團體標準
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【發(fā)布日期】2016-10-21
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【CCS分類】N93水文與水利儀器
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【ICS分類】27.100電站綜合
SF6/N2混合氣體混合比檢測儀校驗及現(xiàn)場檢測方法
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【發(fā)布單位或類別】 CN-TUANTI團體標準
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【發(fā)布日期】2021-12-06
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【CCS分類】
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【ICS分類】29.240.99其他有關(guān)輸電網(wǎng)和配電網(wǎng)的設(shè)備
用于電視位串行數(shù)字接口的錯誤檢測校驗字和狀態(tài)標志
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【發(fā)布單位或類別】 US-SMPTE美國電影與電視工程師協(xié)會
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【發(fā)布日期】1994-01-01
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【CCS分類】
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【ICS分類】數(shù)據(jù)鏈路層
微電路 數(shù)字 抗輻射CMOS 9位奇偶校驗發(fā)生器/檢測器 單片硅
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【發(fā)布單位或類別】 US-MIL美國軍事規(guī)范和標準
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【發(fā)布日期】1995-12-13
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【CCS分類】
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【ICS分類】數(shù)據(jù)鏈路層
信息處理-利用縱向奇偶校驗檢測信息報文中的錯誤
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【發(fā)布單位或類別】 KR-KS韓國標準
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【發(fā)布日期】2007-06-25
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【CCS分類】
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【ICS分類】35.100.20數(shù)據(jù)鏈路層
微電路 數(shù)字 高級CMOS 九位奇偶校驗發(fā)生器/檢測器 單片硅(取代DESC 5962-92201)
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【發(fā)布單位或類別】 US-MIL美國軍事規(guī)范和標準
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【發(fā)布日期】2003-04-17
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【CCS分類】
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【ICS分類】
微電路 數(shù)字 抗輻射 高級CMOS 9位奇偶校驗發(fā)生器/檢測器 單片硅(取代DESC 5962-96582)
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【發(fā)布單位或類別】 US-MIL美國軍事規(guī)范和標準
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【發(fā)布日期】2006-03-20
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【CCS分類】
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【ICS分類】
信息處理——使用縱向奇偶校驗檢測信息消息中的錯誤
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【發(fā)布單位或類別】 IX-ISO國際標準化組織
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【發(fā)布日期】1978-11-01
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【CCS分類】
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【ICS分類】35.100.20
信息處理.使用縱向奇偶校驗檢測信息電文中的錯誤
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【發(fā)布單位或類別】 IX-IEC國際電工委員會
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【發(fā)布日期】1978-11-01
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【CCS分類】
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【ICS分類】35.100.20
微電路 數(shù)字 抗輻射先進CMOS 9位奇偶校驗發(fā)生器檢測器 單片硅(取代DESC 5962-96708)
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【發(fā)布單位或類別】 US-MIL美國軍事規(guī)范和標準
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【發(fā)布日期】2000-06-14
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【CCS分類】
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【ICS分類】
符合ITU-R BT.656和ITU-R BT.799建議的接口中錯誤檢測和狀態(tài)信息的校驗和
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【發(fā)布單位或類別】 IX-ITU國際電信聯(lián)盟
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【發(fā)布日期】1997-10-24
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【CCS分類】
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【ICS分類】
微電路 數(shù)字 抗輻射 高級CMOS 9位奇偶校驗發(fā)生器/檢測器 TTL兼容輸入 單片硅(取代DESC 5962-96583)
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【發(fā)布單位或類別】 US-MIL美國軍事規(guī)范和標準
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【發(fā)布日期】2006-03-20
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【CCS分類】
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【ICS分類】
單片硅12位奇偶校驗發(fā)生器檢測器ECL數(shù)字微電路(取代DESC 5962-87562)
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【發(fā)布單位或類別】 US-MIL美國軍事規(guī)范和標準
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【發(fā)布日期】1989-03-30
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【CCS分類】
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【ICS分類】
微電路 數(shù)字 抗輻射 高級CMOS 9位奇偶校驗發(fā)生器/檢測器 單片硅(S/S由DSCC 5962-96582B提供)
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【發(fā)布單位或類別】 US-MIL美國軍事規(guī)范和標準
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【發(fā)布日期】1996-05-20
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【CCS分類】
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【ICS分類】
微電路、數(shù)字、抗輻射、高級CMOS、9位奇偶校驗發(fā)生器/檢測器、TTL兼容輸入、單片硅(由DSCC 5962-96583B提供)
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【發(fā)布單位或類別】 US-MIL美國軍事規(guī)范和標準
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【發(fā)布日期】1996-05-20
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【CCS分類】
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【ICS分類】
信息處理.使用縱向奇偶校驗檢測信息報文中的錯誤
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【發(fā)布單位或類別】 AU-AS澳大利亞標準
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【發(fā)布日期】1984-01-01
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【CCS分類】
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【ICS分類】
實驗儀器
測試流程

注意事項
1.具體的試驗周期以工程師告知的為準。
2.文章中的圖片或者標準以及具體的試驗方案僅供參考,因為每個樣品和項目都有所不同,所以最終以工程師告知的為準。
3.關(guān)于(樣品量)的需求,最好是先咨詢我們的工程師確定,避免不必要的樣品損失。
4.加急試驗周期一般是五個工作日左右,部分樣品有所差異
5.如果對于(校驗檢測執(zhí)行檢測標準)還有什么疑問,可以咨詢我們的工程師為您一一解答。