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GB/T 42208-2022 納米技術(shù) 多相體系中納米顆粒粒徑測量 透射電鏡圖像法
原創(chuàng)發(fā)布者：北檢院 發(fā)布時間：2023-02-03 點擊數(shù)：
注意：因業(yè)務(wù)調(diào)整，暫不接受個人委托測試望見諒。
基本信息
標(biāo)準(zhǔn)號:GB/T 42208-2022
發(fā)布日期:2022-12-30
實施日期:2023-07-01
標(biāo)準(zhǔn)類別:方法
中國標(biāo)準(zhǔn)分類號:N33
國際標(biāo)準(zhǔn)分類號: 17 計量學(xué)和測量、物理現(xiàn)象 17.180 光學(xué)和光學(xué)測量 17.180.01 光學(xué)和光學(xué)測量綜合
歸口單位:全國納米技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會
執(zhí)行單位:全國納米技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會
主管部門:中國科學(xué)院
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實驗儀器
測試流程
注意事項
1.具體的試驗周期以工程師告知的為準(zhǔn)。
2.文章中的圖片或者標(biāo)準(zhǔn)以及具體的試驗方案僅供參考，因為每個樣品和項目都有所不同，所以最終以工程師告知的為準(zhǔn)。
3.關(guān)于（樣品量）的需求，最好是先咨詢我們的工程師確定，避免不必要的樣品損失。
4.加急試驗周期一般是五個工作日左右，部分樣品有所差異
5.如果對于（GB/T 42208-2022 納米技術(shù) 多相體系中納米顆粒粒徑測量 透射電鏡圖像法）還有什么疑問，可以咨詢我們的工程師為您一一解答。
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