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注意：因業(yè)務調整，暫不接受個人委托測試望見諒。

信息概要

晶閘管是一種關鍵的半導體開關器件，廣泛應用于電力電子系統(tǒng)中。di/dt耐量測試是評估晶閘管在開通瞬間承受電流變化率能力的重要測試項目。該測試確保器件在高頻開關或浪涌條件下不會因過高的di/dt而損壞，從而提高整個系統(tǒng)的可靠性和安全性。作為第三方檢測機構，我們提供專業(yè)的di/dt耐量測試服務，幫助客戶驗證產品性能，確保符合相關標準和規(guī)范。

檢測項目

正向電壓降,反向阻斷電壓,觸發(fā)電壓,觸發(fā)電流,維持電流,浪涌電流能力,di/dt耐量,電壓上升率耐受,開關時間,反向恢復時間,正向恢復時間,漏電流,絕緣電阻,熱阻,結溫,功率損耗,效率,頻率響應,溫度系數,壽命,可靠性,環(huán)境適應性,機械強度,端子強度,焊接性,可焊性,外觀質量,尺寸精度,重量,標記清晰度,包裝完整性

檢測范圍

單向晶閘管,雙向晶閘管,門極可關斷晶閘管,光控晶閘管,逆導晶閘管,不對稱晶閘管,快速晶閘管,高壓晶閘管,大電流晶閘管,小功率晶閘管,中功率晶閘管,高功率晶閘管,低頻晶閘管,高頻晶閘管,硅控整流器,三端雙向可控硅,四層二極管,觸發(fā)二極管,肖特基晶閘管,MOS控制晶閘管,集成門極換流晶閘管,靜電感應晶閘管,場控晶閘管,激光觸發(fā)晶閘管,高溫晶閘管,低溫晶閘管,軍用級晶閘管,工業(yè)級晶閘管,消費級晶閘管,定制晶閘管

檢測方法

脈沖電流測試法：通過施加快速上升的電流脈沖來測試di/dt耐量。

階梯電流法：逐步增加電流變化率，觀察器件的開通行為。

熱成像測試法：使用紅外熱像儀監(jiān)測測試過程中的溫度分布。

電參數測量法：測量電壓、電流等基本電氣參數。

壽命加速測試法：進行加速老化測試以評估長期可靠性。

環(huán)境測試法：在不同環(huán)境條件下測試性能，如溫度、濕度。

機械振動測試法：施加振動以測試機械牢固性。

焊接可靠性測試法：評估端子焊接的強度和耐久性。

絕緣電阻測試法：測量器件絕緣部分的電阻值。

浪涌電流測試法：施加高浪涌電流測試耐受能力。

觸發(fā)特性測試法：測試觸發(fā)電壓和電流的準確性。

恢復特性測試法：測量反向恢復時間和正向恢復時間。

功率循環(huán)測試法：模擬實際應用中的功率循環(huán)情況。

高頻性能測試法：在高頻開關條件下測試響應。

數據記錄與分析發(fā)：使用數據采集系統(tǒng)記錄測試數據并進行分析。

檢測儀器

高精度電流源,快速電壓源,數字示波器,熱成像相機,萬用表,LCR測量儀,功率分析儀,溫度試驗箱,濕度試驗箱,振動測試臺,焊接測試儀,絕緣電阻測試儀,浪涌發(fā)生器,數據采集系統(tǒng),頻譜分析儀

實驗儀器

測試流程

注意事項

1.具體的試驗周期以工程師告知的為準。

2.文章中的圖片或者標準以及具體的試驗方案僅供參考，因為每個樣品和項目都有所不同，所以最終以工程師告知的為準。

3.關于（樣品量）的需求，最好是先咨詢我們的工程師確定，避免不必要的樣品損失。

4.加急試驗周期一般是五個工作日左右，部分樣品有所差異

5.如果對于（晶閘管di/dt耐量測試）還有什么疑問，可以咨詢我們的工程師為您一一解答。