獲取試驗方案？獲取試驗報價？獲取試驗周期？

注意：因業(yè)務(wù)調(diào)整，暫不接受個人委托測試望見諒。

信息概要

透射電子顯微鏡（TEM）和掃描電子顯微鏡（SEM）觀測服務(wù)是一種基于電子光學(xué)原理的高分辨率微觀分析技術(shù)，主要用于材料的形貌、結(jié)構(gòu)和成分表征。該服務(wù)通過非破壞性或微損方式，提供樣品的高清晰度圖像和元素信息，適用于多種材料的質(zhì)量控制、研發(fā)支持和故障診斷。檢測的重要性在于幫助用戶深入了解材料性能，確保產(chǎn)品符合相關(guān)標準，支持科學(xué)研究、工業(yè)生產(chǎn)和合規(guī)性評估。本服務(wù)概括了從樣品制備、觀測執(zhí)行到數(shù)據(jù)解讀的全流程，致力于提供客觀、準確的檢測結(jié)果，助力客戶做出 informed 決策。

檢測項目

形貌觀察,成分分析,元素mapping,晶體結(jié)構(gòu)分析,缺陷檢測,粒徑分布,表面形貌,厚度測量,界面分析,相identification,能譜分析,電子衍射,背散射電子成像,二次電子成像,成分線掃描,三維重建,納米結(jié)構(gòu)表征,污染物分析,腐蝕分析,疲勞斷裂分析,生物樣品成像,材料失效分析,微觀硬度測試,熱分析耦合,原位觀測,環(huán)境SEM觀測,低真空觀測,高分辨率成像,選區(qū)電子衍射,能譜定量分析

檢測范圍

金屬材料,陶瓷材料,聚合物材料,復(fù)合材料,半導(dǎo)體材料,納米材料,生物材料,礦物樣品,電子元件,涂層材料,纖維材料,薄膜材料,粉末樣品,塊體材料,液體樣品,環(huán)境樣品,考古樣品,醫(yī)學(xué)樣品,食品相關(guān)材料,化妝品成分,藥品成分,工業(yè)產(chǎn)品,研究樣品,教育樣品,自定義樣品

檢測方法

SEM觀測：使用電子束掃描樣品表面，通過檢測二次電子或背散射電子信號生成高分辨率形貌圖像，適用于表面特征分析。

TEM觀測：電子束穿透薄樣品，形成透射電子圖像，用于內(nèi)部結(jié)構(gòu)的高倍率觀察和晶體學(xué)分析。

EDS分析：能量色散X射線光譜法，通過檢測特征X射線進行元素定性定量分析，輔助成分確定。

WDS分析：波長色散X射線光譜法，提供更高精度的元素成分測量，適用于輕元素分析。

電子衍射：利用電子束與晶體相互作用產(chǎn)生衍射花樣，用于確定晶體結(jié)構(gòu)和取向。

元素mapping：通過掃描方式繪制元素分布圖，直觀顯示樣品中不同元素的區(qū)域變化。

線掃描：沿樣品特定路徑進行元素或信號強度分析，用于成分梯度研究。

表面分析：聚焦樣品表面形貌和成分，幫助評估處理效果或污染情況。

斷面分析：觀察材料內(nèi)部截面結(jié)構(gòu)，適用于涂層、多層材料或缺陷 investigation。

納米顆粒分析：測量顆粒尺寸、形狀和分布，支持納米技術(shù)相關(guān)應(yīng)用。

缺陷分析：識別樣品中的空洞、裂紋或夾雜物，輔助質(zhì)量評估和故障排查。

相分析：確定材料中不同相的存在和比例，用于 multiphase 系統(tǒng)表征。

厚度測量：通過圖像對比度或信號強度計算薄膜或涂層厚度，確保符合規(guī)格要求。

原位觀測：在可控環(huán)境（如溫度、應(yīng)力）下實時觀察樣品變化，用于動態(tài)過程研究。

環(huán)境SEM：在低真空條件下觀測不導(dǎo)電或敏感樣品，減少 charging 效應(yīng)并保持樣品完整性。

檢測儀器

掃描電子顯微鏡,透射電子顯微鏡,能譜儀,波長色散光譜儀,電子背散射衍射儀,聚焦離子束顯微鏡,離子銑削儀,超薄切片機,噴金儀,臨界點干燥儀,冷凍傳輸系統(tǒng),原位拉伸臺,加熱臺,冷卻臺,能譜探測器

實驗儀器

測試流程

注意事項

1.具體的試驗周期以工程師告知的為準。

2.文章中的圖片或者標準以及具體的試驗方案僅供參考，因為每個樣品和項目都有所不同，所以最終以工程師告知的為準。

3.關(guān)于（樣品量）的需求，最好是先咨詢我們的工程師確定，避免不必要的樣品損失。

4.加急試驗周期一般是五個工作日左右，部分樣品有所差異

5.如果對于（TEM/SEM觀測）還有什么疑問，可以咨詢我們的工程師為您一一解答。