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注意：因業(yè)務(wù)調(diào)整，暫不接受個(gè)人委托測(cè)試望見(jiàn)諒。

合路器性能測(cè)試技術(shù)解析

一、檢測(cè)樣品

本次測(cè)試的樣品為多頻段射頻合路器，型號(hào)為HCQ-5G-01，適用于5G通信基站中的信號(hào)合路場(chǎng)景。樣品主要參數(shù)包括工作頻率范圍（698 MHz–3.8 GHz）、最大輸入功率（200 W）、端口阻抗（50 Ω）及接口類(lèi)型（N型）。測(cè)試前，樣品已通過(guò)外觀檢查與基礎(chǔ)功能驗(yàn)證，確認(rèn)無(wú)物理?yè)p傷且端口連接正常。

二、檢測(cè)項(xiàng)目

合路器的性能測(cè)試涵蓋以下核心項(xiàng)目：

1. 插入損耗：評(píng)估信號(hào)通過(guò)合路器時(shí)的功率衰減程度。
2. 端口隔離度：檢測(cè)輸入端口與輸出端口之間的信號(hào)泄漏水平。
3. 電壓駐波比（VSWR）：驗(yàn)證端口阻抗匹配特性，判斷信號(hào)反射情況。
4. 頻率響應(yīng)：分析合路器在不同頻段下的通帶平坦度與帶外抑制能力。
5. 功率容量：測(cè)試合路器在滿負(fù)荷工作狀態(tài)下的耐受性與穩(wěn)定性。

三、檢測(cè)方法

1. 插入損耗與頻率響應(yīng)測(cè)試 采用矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀（VNA）進(jìn)行掃頻測(cè)量。將合路器接入測(cè)試系統(tǒng)，設(shè)置頻率范圍為698 MHz–3.8 GHz，輸入功率為-10 dBm，記錄通帶內(nèi)插入損耗曲線及帶外抑制特性。
2. 端口隔離度測(cè)試 使用雙端口網(wǎng)絡(luò)分析儀，分別連接合路器的輸入端口與被測(cè)輸出端口，關(guān)閉未測(cè)試端口的信號(hào)源，測(cè)量?jī)啥丝陂g的傳輸損耗（S21參數(shù)）。
3. 電壓駐波比測(cè)試 通過(guò)反射法測(cè)量端口回波損耗（S11參數(shù)），利用公式VSWR = (1+|Γ|)/(1-|Γ|)計(jì)算駐波比，其中Γ為反射系數(shù)。
4. 功率容量測(cè)試 搭建高功率測(cè)試平臺(tái)，通過(guò)信號(hào)發(fā)生器與功率放大器輸入標(biāo)稱(chēng)最大功率（200 W），持續(xù)工作30分鐘后，監(jiān)測(cè)合路器溫升及電氣性能變化。

四、檢測(cè)儀器

1. 矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀（Keysight N5224B） 用于高精度測(cè)量S參數(shù)，支持寬頻段掃頻與實(shí)時(shí)數(shù)據(jù)分析。
2. 頻譜分析儀（Rohde & Schwarz FSW43） 輔助驗(yàn)證帶外抑制特性及雜散信號(hào)水平。
3. 高功率信號(hào)源（Ametek CTS-500） 提供穩(wěn)定的高功率輸入信號(hào)，模擬實(shí)際工作條件。
4. 溫度巡檢儀（Fluke 289） 實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)合路器外殼與關(guān)鍵器件的溫度變化。

五、總結(jié)

通過(guò)上述測(cè)試流程，可全面評(píng)估合路器的電氣性能與可靠性，確保其滿足5G通信系統(tǒng)的嚴(yán)苛要求。測(cè)試結(jié)果將作為產(chǎn)品合規(guī)性與質(zhì)量認(rèn)證的重要依據(jù)，同時(shí)為優(yōu)化設(shè)計(jì)提供數(shù)據(jù)支持。

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實(shí)驗(yàn)儀器

測(cè)試流程

注意事項(xiàng)

1.具體的試驗(yàn)周期以工程師告知的為準(zhǔn)。

2.文章中的圖片或者標(biāo)準(zhǔn)以及具體的試驗(yàn)方案僅供參考，因?yàn)槊總€(gè)樣品和項(xiàng)目都有所不同，所以最終以工程師告知的為準(zhǔn)。

3.關(guān)于（樣品量）的需求，最好是先咨詢(xún)我們的工程師確定，避免不必要的樣品損失。

4.加急試驗(yàn)周期一般是五個(gè)工作日左右，部分樣品有所差異

5.如果對(duì)于（合路器測(cè)試）還有什么疑問(wèn)，可以咨詢(xún)我們的工程師為您一一解答。