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注意:因業(yè)務(wù)調(diào)整,暫不接受個(gè)人委托測(cè)試望見諒。
電子元件吸濕失效測(cè)試是針對(duì)電子元件在潮濕環(huán)境中因吸濕導(dǎo)致的性能退化或失效進(jìn)行的專項(xiàng)檢測(cè)。隨著電子設(shè)備向高集成度、微型化發(fā)展,吸濕問題已成為影響電子元件可靠性的關(guān)鍵因素之一。第三方檢測(cè)機(jī)構(gòu)通過模擬濕熱環(huán)境,評(píng)估元件的耐濕性、絕緣性能、機(jī)械強(qiáng)度等指標(biāo),為產(chǎn)品質(zhì)量控制、壽命預(yù)測(cè)及工藝改進(jìn)提供科學(xué)依據(jù)。該測(cè)試對(duì)確保電子產(chǎn)品在潮濕氣候或特殊環(huán)境下的穩(wěn)定性至關(guān)重要,可有效避免因吸濕引發(fā)的短路、腐蝕、分層等故障,降低企業(yè)售后成本并提升市場(chǎng)競(jìng)爭(zhēng)力。
吸濕率, 飽和含水量, 濕熱循環(huán)耐受性, 絕緣電阻, 介電強(qiáng)度, 表面電阻率, 體積電阻率, 焊盤抗拉強(qiáng)度, 分層起始時(shí)間, 潮氣擴(kuò)散系數(shù), 吸濕膨脹率, 熱重分析(TGA), 紅外光譜分析(FTIR), 掃描電鏡(SEM)觀察, X射線光電子能譜(XPS), 離子遷移測(cè)試, 濕熱老化后功能測(cè)試, 氣密性檢測(cè), 吸濕應(yīng)力敏感度, 回流焊耐受性
集成電路(IC), 片式電阻, 片式電容, 電感器, 晶體管, 二極管, LED器件, 石英晶體振蕩器, 連接器, 繼電器, 傳感器, 微機(jī)電系統(tǒng)(MEMS), 印刷電路板(PCB), 封裝材料, 導(dǎo)電膠, 焊錫膏, 絕緣漆, 電子陶瓷, 磁性元件, 光電耦合器
JEDEC J-STD-020D:采用分級(jí)濕熱條件評(píng)估元件耐濕敏感性的標(biāo)準(zhǔn)方法
IPC-TM-650 2.6.3.1:通過沸水試驗(yàn)測(cè)定印刷電路板的吸濕率
IEC 60749:半導(dǎo)體器件濕熱環(huán)境可靠性測(cè)試的國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)
MIL-STD-883 Method 1004:軍用級(jí)元件內(nèi)部水汽含量檢測(cè)規(guī)范
ASTM D570:塑料吸水性的標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試流程
JESD22-A120:芯片封裝分層失效的加速濕度測(cè)試
IPC-1601:電子組裝件防潮包裝處理指南
ISO 9022:光學(xué)元件在濕熱環(huán)境中的性能測(cè)試
GB/T 2423.3:中國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)的恒定濕熱試驗(yàn)方法
MIL-STD-202 Method 106:元件耐濕特性的軍事標(biāo)準(zhǔn)檢測(cè)
IEC 60068-2-78:穩(wěn)態(tài)濕熱(Ca)試驗(yàn)的詳細(xì)規(guī)程
JIS C 60068:日本工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)的濕熱循環(huán)測(cè)試
IPC/JEDEC J-STD-033:潮濕敏感元件處理與烘烤標(biāo)準(zhǔn)
ASTM E104:控制相對(duì)濕度的標(biāo)準(zhǔn)實(shí)踐方法
DIN EN 60721:德國(guó)環(huán)境條件分類標(biāo)準(zhǔn)中的濕度測(cè)試
恒溫恒濕試驗(yàn)箱, 精密電子天平, 絕緣電阻測(cè)試儀, 耐壓測(cè)試儀, 掃描電子顯微鏡, 傅里葉紅外光譜儀, 熱重分析儀, X射線衍射儀, 離子色譜儀, 氣相色譜質(zhì)譜聯(lián)用儀, 激光共聚焦顯微鏡, 表面粗糙度儀, 膨脹系數(shù)測(cè)定儀, 水汽透過率測(cè)試儀, 回流焊模擬機(jī)
北檢院實(shí)驗(yàn)室百余臺(tái)大型試驗(yàn)儀器,適用于各種材料的樣品,并且還有非標(biāo)試驗(yàn)的工裝定制服務(wù)。
實(shí)驗(yàn)室工程師有著豐富的測(cè)試經(jīng)驗(yàn),無論是常規(guī)樣品還是科研樣品,都有定制化試驗(yàn)方案。
服務(wù)覆蓋領(lǐng)域廣,主要包括:材料,能源,性能測(cè)試,醫(yī)藥領(lǐng)域,生物,動(dòng)物,植物等科研項(xiàng)目領(lǐng)域。
我們提供強(qiáng)大的后期技術(shù)支持,如果您對(duì)于報(bào)告有疑問或者對(duì)于試驗(yàn)有疑問,我們可以為您提供完善的解答服務(wù)。
1.具體的試驗(yàn)周期以工程師告知的為準(zhǔn)。
2.文章中的圖片或者標(biāo)準(zhǔn)以及具體的試驗(yàn)方案僅供參考,因?yàn)槊總€(gè)樣品和項(xiàng)目都有所不同,所以最終以工程師告知的為準(zhǔn)。
3.關(guān)于(樣品量)的需求,最好是先咨詢我們的工程師確定,避免不必要的樣品損失。
4.加急試驗(yàn)周期一般是五個(gè)工作日左右,部分樣品有所差異
5.如果對(duì)于(電子元件吸濕失效測(cè)試)還有什么疑問,可以咨詢我們的工程師為您一一解答。