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注意：因業(yè)務(wù)調(diào)整，暫不接受個(gè)人委托測試望見諒。

信息概要

護(hù)照芯片墨跡耐久實(shí)驗(yàn)是針對(duì)護(hù)照芯片中使用的墨跡材料進(jìn)行耐久性評(píng)估的專業(yè)檢測項(xiàng)目。該檢測主要評(píng)估墨跡在長期使用、環(huán)境變化或物理摩擦等條件下的穩(wěn)定性、抗褪色性及附著力等性能，確保護(hù)照芯片信息在有效期內(nèi)清晰可讀。檢測的重要性在于保障護(hù)照的安全性和可靠性，避免因墨跡退化導(dǎo)致信息丟失或偽造風(fēng)險(xiǎn)，同時(shí)滿足國際民航組織（ICAO）等權(quán)威機(jī)構(gòu)的技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)要求。

檢測項(xiàng)目

墨跡附著力測試，抗紫外線老化測試，耐摩擦測試，耐水浸泡測試，耐化學(xué)溶劑測試，耐溫濕度循環(huán)測試，色差評(píng)估，光澤度測試，抗刮擦性能，耐汗液測試，耐油性測試，耐鹽霧測試，加速老化測試，耐光照測試，耐濕熱測試，耐低溫測試，耐高溫測試，墨跡干燥時(shí)間測試，抗粘連測試，耐磨耗測試

檢測范圍

普通護(hù)照芯片墨跡，電子護(hù)照芯片墨跡，生物識(shí)別護(hù)照芯片墨跡，外交護(hù)照芯片墨跡，公務(wù)護(hù)照芯片墨跡，旅行證芯片墨跡，簽證貼紙墨跡，身份證芯片墨跡，居留證芯片墨跡，邊境通行證芯片墨跡，海員證芯片墨跡，難民旅行證芯片墨跡，APEC商務(wù)旅行卡芯片墨跡，港澳通行證芯片墨跡，臺(tái)灣居民來往大陸通行證芯片墨跡，電子簽證芯片墨跡，臨時(shí)護(hù)照芯片墨跡，兒童護(hù)照芯片墨跡，緊急旅行證芯片墨跡，聯(lián)合國通行證芯片墨跡

檢測方法

ISO 2834-1:2016 印刷技術(shù)-墨跡耐摩擦測試方法：通過摩擦儀模擬日常使用中的機(jī)械磨損。

ISO 105-B02:2014 紡織品色牢度測試-耐光色牢度：評(píng)估墨跡在光照條件下的褪色程度。

ASTM D5264-2019 墨跡附著力測試標(biāo)準(zhǔn)：使用膠帶剝離法檢測墨跡與基材的結(jié)合強(qiáng)度。

ISO 11798:1999 信息與文獻(xiàn)-墨跡耐久性：綜合評(píng)估墨跡在長期保存中的穩(wěn)定性。

ISO 3783:2006 印刷品耐摩擦測試：通過旋轉(zhuǎn)摩擦儀量化墨跡耐磨性能。

ASTM F2357-2019 電子護(hù)照芯片環(huán)境測試：模擬溫濕度變化對(duì)墨跡的影響。

ISO 9022-9:2015 光學(xué)設(shè)備環(huán)境測試-耐鹽霧：檢測墨跡在鹽霧環(huán)境中的抗腐蝕性。

ISO 2813:2014 涂料光澤度測試：使用光澤度儀測量墨跡表面反射特性。

ASTM D471-2016 橡膠耐液體測試：評(píng)估墨跡接觸汗液或油類后的穩(wěn)定性。

ISO 11341:2004 涂料人工氣候老化測試：通過氙燈加速老化模擬長期暴露。

ISO 877-2:2009 塑料耐太陽輻射測試：檢測墨跡在紫外線下的性能變化。

ASTM D2247-2019 涂層耐水浸泡測試：評(píng)估墨跡在水環(huán)境中的耐久性。

ISO 1519:2011 彎曲測試法：檢測墨跡在基材彎曲時(shí)的開裂情況。

ISO 1520:2006 杯突試驗(yàn)：評(píng)估墨跡在基材變形時(shí)的附著力。

ASTM D3363-2020 鉛筆硬度測試：量化墨跡表面抗刮擦能力。

檢測儀器

摩擦測試儀，氙燈老化試驗(yàn)箱，紫外老化試驗(yàn)箱，鹽霧試驗(yàn)箱，光澤度儀，色差儀，恒溫恒濕箱，膠帶剝離試驗(yàn)機(jī)，杯突試驗(yàn)機(jī)，彎曲試驗(yàn)機(jī)，鉛筆硬度計(jì)，顯微鏡，分光光度計(jì)，熱重分析儀，接觸角測量儀

實(shí)驗(yàn)儀器

測試流程

注意事項(xiàng)

1.具體的試驗(yàn)周期以工程師告知的為準(zhǔn)。

2.文章中的圖片或者標(biāo)準(zhǔn)以及具體的試驗(yàn)方案僅供參考，因?yàn)槊總€(gè)樣品和項(xiàng)目都有所不同，所以最終以工程師告知的為準(zhǔn)。

3.關(guān)于（樣品量）的需求，最好是先咨詢我們的工程師確定，避免不必要的樣品損失。

4.加急試驗(yàn)周期一般是五個(gè)工作日左右，部分樣品有所差異

5.如果對(duì)于（護(hù)照芯片墨跡耐久實(shí)驗(yàn)）還有什么疑問，可以咨詢我們的工程師為您一一解答。