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注意：因業(yè)務(wù)調(diào)整，暫不接受個(gè)人委托測(cè)試望見諒。

信息概要

絕緣材料真空釋氣測(cè)試是評(píng)估材料在太空或高真空環(huán)境中釋放氣體特性的關(guān)鍵檢測(cè)項(xiàng)目。該測(cè)試通過模擬真空高溫環(huán)境，精確測(cè)量材料釋放的氣體成分與含量，對(duì)航天器、衛(wèi)星、精密電子設(shè)備等領(lǐng)域至關(guān)重要。有效控制釋氣可防止污染物沉積在光學(xué)器件、傳感器等關(guān)鍵部件上，避免儀器失效、信號(hào)干擾及系統(tǒng)壽命縮短，是保障高可靠性設(shè)備安全運(yùn)行的核心質(zhì)量管控環(huán)節(jié)。

檢測(cè)項(xiàng)目

總質(zhì)量損失(TML)：材料在真空高溫環(huán)境下總揮發(fā)物質(zhì)量的百分比測(cè)定

收集的揮發(fā)性可凝物質(zhì)(CVCM)：在低溫冷阱表面凝結(jié)的揮發(fā)性物質(zhì)含量測(cè)量

水蒸氣回收量(WVR)：材料釋放水蒸氣在冷阱上重新捕獲的質(zhì)量分析

氫氣釋放率：材料析出氫氣濃度的定量分析

一氧化碳釋放量：真空環(huán)境下材料生成一氧化碳的氣體通量

二氧化碳釋放量：測(cè)定材料熱分解產(chǎn)生的二氧化碳含量

甲烷釋放特性：測(cè)量材料釋放甲烷氣體的速率與總量

氮氧化物濃度：分析材料釋放氮氧化合物的成分比例

硫化物釋放檢測(cè)：含硫絕緣材料釋放硫化氫等氣體的評(píng)估

鹵化物氣體含量：檢測(cè)含鹵素材料釋放氟氯烴等腐蝕性氣體

硅氧烷揮發(fā)物：有機(jī)硅材料釋放低分子硅氧烷的定量測(cè)試

苯系物釋放量：芳香族化合物釋放苯/甲苯/二甲苯等濃度

醛酮類揮發(fā)物：材料釋放甲醛/乙醛等羰基化合物的測(cè)定

總有機(jī)揮發(fā)物(TVOC)：所有有機(jī)釋放物總量的綜合評(píng)估

殘余氣體分析(RGA)：真空系統(tǒng)內(nèi)殘留氣體的質(zhì)譜成分鑒定

質(zhì)量損失溫度曲線：不同溫度梯度下的質(zhì)量損失變化監(jiān)測(cè)

釋氣動(dòng)力學(xué)研究：材料釋氣速率隨時(shí)間變化的規(guī)律分析

氣載分子污染物(AMC)：釋放氣體在真空環(huán)境中的懸浮污染評(píng)估

表面脫附率：材料單位表面積的氣體分子脫附量計(jì)算

材料放氣速率：?jiǎn)挝粫r(shí)間內(nèi)材料釋放氣體總量的測(cè)定

真空穩(wěn)定性：長(zhǎng)期真空環(huán)境中材料釋氣行為的穩(wěn)定性評(píng)價(jià)

孔隙率相關(guān)性：材料微孔結(jié)構(gòu)與釋氣特性的關(guān)聯(lián)研究

熱重-質(zhì)譜聯(lián)用(TG-MS)：材料熱分解與釋氣成分的同步分析

逸出氣體分析(EGA)：材料升溫過程中逸出氣體的實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)

飽和蒸氣壓測(cè)定：材料揮發(fā)物在真空條件下的飽和蒸氣壓

氣體擴(kuò)散系數(shù)：揮發(fā)性成分在材料內(nèi)部的擴(kuò)散能力評(píng)估

材料吸水率：環(huán)境濕度對(duì)釋氣特性的影響研究

紫外輻照釋氣：模擬太空紫外輻射下的釋氣行為變化

真空紫外光譜：釋氣物質(zhì)在真空紫外波段的光學(xué)特性

凝聚物表面張力：冷阱凝聚液滴的表面張力特性測(cè)定

粒子沉降分析：可凝物在敏感表面的沉降分布研究

材料老化釋氣：加速老化后材料釋氣特性的變化評(píng)估

批次一致性驗(yàn)證：不同生產(chǎn)批次材料的釋氣穩(wěn)定性對(duì)比

檢測(cè)范圍

聚酰亞胺薄膜, 聚四氟乙烯板, 環(huán)氧樹脂灌封膠, 有機(jī)硅橡膠, 聚酯薄膜, 聚氨酯泡沫, 聚氯乙烯絕緣帶, 聚醚醚酮制品, 聚萘二甲酸乙二醇酯, 陶瓷纖維紙, 玻璃纖維織物, 云母帶, 芳綸紙, 聚乙烯電纜料, 聚丙烯薄膜, 聚苯乙烯泡沫, 聚碳酸酯板, 酚醛樹脂層壓板, 聚甲醛絕緣件, 聚苯硫醚模塑料, 聚醚砜管材, 硅酮密封膠, 丙烯酸酯膠帶, 橡膠絕緣墊, 柔性電路板基材, 納米氣凝膠氈, 陶瓷化硅橡膠, 阻燃改性尼龍, 石墨烯增強(qiáng)復(fù)合材料, 聚偏氟乙烯涂層, 低溫固化環(huán)氧膠, 聚芳酰胺纖維紙, 氮化硼填充硅脂, 氧化鋁陶瓷基板, 聚酰胺酰亞胺漆包線

檢測(cè)方法

ASTM E595：真空環(huán)境下總質(zhì)量損失和可凝物標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試法

ESA PSS-01-702：歐洲航天局材料釋氣特性評(píng)估標(biāo)準(zhǔn)

ISO 15388：空間系統(tǒng)材料釋氣性能測(cè)試國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)

動(dòng)態(tài)頂空采樣：通過載氣連續(xù)吹掃捕獲釋放氣體的方法

靜態(tài)頂空分析：密閉體系中材料釋放氣體的平衡濃度測(cè)定

熱脫附質(zhì)譜(TD-MS)：加熱解吸結(jié)合質(zhì)譜的成分鑒定技術(shù)

氣相色譜-質(zhì)譜聯(lián)用(GC-MS)：揮發(fā)性有機(jī)物的分離與定性定量分析

傅里葉紅外光譜(FTIR)：釋氣成分的紅外吸收特性分析

石英晶體微天平(QCM)：納米級(jí)凝聚物沉積質(zhì)量實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)

激光誘導(dǎo)擊穿光譜(LIBS)：材料表面元素釋放的原位分析

四極質(zhì)譜儀掃描：真空系統(tǒng)殘余氣體的多組分同步檢測(cè)

熱重-紅外聯(lián)用(TG-IR)：材料熱失重與氣體成分實(shí)時(shí)關(guān)聯(lián)分析

真空紫外光電離：電離能低于10.2eV的氣體分子檢測(cè)技術(shù)

低溫冷凝收集：冷阱捕獲可凝物后離線化學(xué)成分分析

壓力上升法：密閉真空系統(tǒng)中壓力變化速率法計(jì)算放氣量

差分電遷移率分析：釋氣形成納米顆粒的粒徑分布測(cè)量

放射性示蹤法：同位素標(biāo)記檢測(cè)特定成分的擴(kuò)散路徑

分子束質(zhì)譜：高真空環(huán)境下分子束流的原位質(zhì)譜檢測(cè)

激光干涉測(cè)量：凝聚物薄膜厚度的非接觸式光學(xué)測(cè)量

光電離檢測(cè)器(PID)：揮發(fā)性有機(jī)物的高靈敏度探測(cè)

質(zhì)子轉(zhuǎn)移反應(yīng)質(zhì)譜(PTR-MS)：痕量揮發(fā)性有機(jī)物的實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)

微波等離子體原子發(fā)射：材料釋放金屬元素的檢測(cè)方法

檢測(cè)儀器

真空釋氣測(cè)試系統(tǒng), 四極質(zhì)譜儀, 氣相色譜儀, 傅里葉變換紅外光譜儀, 熱重分析儀, 石英晶體微天平, 激光解吸電離飛行時(shí)間質(zhì)譜, 動(dòng)態(tài)頂空進(jìn)樣器, 靜態(tài)真空分析室, 低溫冷凝收集裝置, 高真空分子泵機(jī)組, 殘余氣體分析儀, 真空紫外分光計(jì), 熱脫附儀, 等離子體質(zhì)譜儀, 氣體稀釋校準(zhǔn)系統(tǒng), 微量天平, 光電離檢測(cè)器, 質(zhì)子轉(zhuǎn)移反應(yīng)質(zhì)譜, 微波等離子體發(fā)射光譜儀, 激光干涉儀, 恒溫恒濕試驗(yàn)箱, 紫外加速老化箱, 真空烘烤裝置, 氣體采樣袋自動(dòng)進(jìn)樣器

實(shí)驗(yàn)儀器

測(cè)試流程

注意事項(xiàng)

1.具體的試驗(yàn)周期以工程師告知的為準(zhǔn)。

2.文章中的圖片或者標(biāo)準(zhǔn)以及具體的試驗(yàn)方案僅供參考，因?yàn)槊總€(gè)樣品和項(xiàng)目都有所不同，所以最終以工程師告知的為準(zhǔn)。

3.關(guān)于（樣品量）的需求，最好是先咨詢我們的工程師確定，避免不必要的樣品損失。

4.加急試驗(yàn)周期一般是五個(gè)工作日左右，部分樣品有所差異

5.如果對(duì)于（絕緣材料真空釋氣測(cè)試）還有什么疑問，可以咨詢我們的工程師為您一一解答。